上海熱成像校準(zhǔn)系統(tǒng)解決方案 客戶(hù)至上 上海明策供應(yīng)

SAFT是專(zhuān)業(yè)用來(lái)測(cè)量成像距離只有幾米的短距熱像儀的小型模塊化設(shè)備。絕大多數(shù)的商用熱像儀屬于這一范疇SAFT不使用折射光管作為投射裝置，所以分辨率片到被測(cè)成像儀的距離須比較短。所以SAFT一般推薦用來(lái)檢測(cè)上面提到的小型短距，小口徑，寬FOV的熱像儀。如果需要測(cè)試大口徑或者比較窄視野的熱像儀時(shí)，我們也提供額外的折射光管供客戶(hù)選擇。

由于SAFT把一系列的分辨率片裝在了電動(dòng)光柵上所以它可以快速地測(cè)量熱像儀的各種參數(shù)。一般SAFT由TCB-2D黑體，一組分辨率片，ARC-500屏蔽裝置，PC，抓幀器，TAM軟件，還有一些可選模塊組成。SAFT可以直接投射不同的分辨率片到被測(cè)熱像儀上，根據(jù)被測(cè)熱像儀所產(chǎn)生的扭曲圖像副本再結(jié)合軟件或者主觀判斷我們可以衡量出該被測(cè)熱像儀的性能，另外熱像儀的一些重要參數(shù)也都包含在了測(cè)量項(xiàng)目中。 Inframet DTR短焦熱像儀測(cè)試系統(tǒng)，基數(shù)參數(shù)智能校準(zhǔn)，為**插上科技的翅膀！上海熱成像校準(zhǔn)系統(tǒng)解決方案

Ls-dAL光源是多通道標(biāo)準(zhǔn)光源，有四種工作模式，具有的動(dòng)態(tài)范圍、可連續(xù)調(diào)節(jié)光強(qiáng)度（能夠模擬超亮的白天和黑夜）、計(jì)算機(jī)化設(shè)計(jì)，可用于測(cè)試可見(jiàn)光-短波紅外相機(jī)（彩色/單色CCD / CMOS / ICCD / EBCCD相機(jī)、短波紅外相機(jī)），用于中/遠(yuǎn)程監(jiān)測(cè)應(yīng)用。

工作模式①鹵素?zé)?，色?856K，模擬夜晚和典型的白天②白光LED，色溫超過(guò)5000K，模擬極亮的白天③鎬強(qiáng)度紫外LED，檢測(cè)抗紫外線(xiàn)的能力

總量度范圍10mcd/m2-10kcd/m2–D（白天版本）10μcd/m2-10kcd/m2–DN（白天/夜晚版本）（注：亮度范圍可以擴(kuò)展） 上海熱成像校準(zhǔn)系統(tǒng)解決方案精確定位，無(wú)懼暗夜——NVS夜視設(shè)備多功能測(cè)試系統(tǒng)，優(yōu)化基數(shù)參數(shù)，讓監(jiān)控更可靠！

由于以下幾個(gè)原因，太赫茲區(qū)域黑體的設(shè)計(jì)是一個(gè)技術(shù)挑戰(zhàn)：a）需要THz/短波頻譜帶中高吸收率涂層的發(fā)射體以確保高發(fā)射率；b）由于THz/微波成像儀的低分辨率，所以需要大面積的黑體；c）需要很高的溫度均勻性、溫度穩(wěn)定性和準(zhǔn)確度，以便能夠?qū)Hz/微波傳感器進(jìn)行準(zhǔn)確校準(zhǔn)。這些黑體的設(shè)計(jì)基于針對(duì)THz范圍優(yōu)化的特殊澆注材料吸收體涂層，大面積均勻發(fā)射面板和控制電子元件。MAB黑體具有不同發(fā)射器面積，不同溫度范圍的一系列版本，并針對(duì)不同的光譜帶進(jìn)行了優(yōu)化。MAB黑體的特征在于具有良好的溫度分辨率、溫度穩(wěn)定性、溫度均勻性、溫度不確定性和高發(fā)射率。所有這些功能使得MAB黑體被用作測(cè)試/校準(zhǔn)太赫茲/亞太赫茲成像儀或其他這種輻射儀系統(tǒng)中的參考源的理想選擇。

靶標(biāo)是用于測(cè)試光電成像系統(tǒng)時(shí)創(chuàng)建參考圖像的模塊。Inframet提供的靶標(biāo)可分為兩類(lèi):1)無(wú)源靶標(biāo)，2)有源靶標(biāo)。無(wú)源靶標(biāo)需要由黑體或標(biāo)定光源產(chǎn)生均勻光束照射，生成參考圖像模式的圖像。這些靶標(biāo)通常是大型測(cè)試系統(tǒng)位于平行光管焦平面的小模塊。無(wú)源靶標(biāo)的工作不需要電力供應(yīng)。這些標(biāo)準(zhǔn)的小尺寸靶標(biāo)作為Inframet制造的大型模塊化測(cè)試系統(tǒng)(如DT,TAIM,TVT,MS)的一部分。有源靶標(biāo)是通過(guò)其自身的熱輻射或由人造光源發(fā)出的反射光創(chuàng)建參考圖案。這些目標(biāo)通常是大型的單獨(dú)模塊（尺寸從500mm到3000mm），需要電才能正常工作。被測(cè)光電成像儀可直接看到有源靶標(biāo)。這些靶標(biāo)用于測(cè)試融合成像儀的融合算法或作為熱像儀/VIS-NIR相機(jī)分辨率靶標(biāo)的流行解決方案。FUT系列靶標(biāo)是有源靶標(biāo)，通常用于測(cè)試融合成像系統(tǒng)或熱像儀。Inframet TAIM熱瞄準(zhǔn)鏡和熱像儀夾測(cè)試系統(tǒng)基數(shù)參數(shù)一鍵校準(zhǔn)，夜間監(jiān)控盡在掌控！

TCB是由黑體發(fā)射器集成控制器電路構(gòu)建的電腦化的黑體。TCB黑體作為單一模塊交付使用。用戶(hù)只需連接兩根標(biāo)準(zhǔn)電纜（電源和RS232電纜），就可以從PC控制黑體。該解決方案提高了TCB黑體更高的可靠性，對(duì)電磁干擾的抵抗力，并簡(jiǎn)化了其操作。TCB黑體有一系列版本供用戶(hù)選擇使用。有兩個(gè)重心參數(shù)指標(biāo)：黑體發(fā)射面的大小和溫度范圍。發(fā)射面尺寸由黑體代碼：TCB-XD表示，其中X是發(fā)射面平方的近似尺寸，單位為英寸。通常提供以下型號(hào)：TCB-2D，TCB-4D，TCB-6D，TCB-8D，TCB-12D，TCB-14D，TCB-2O。在標(biāo)準(zhǔn)版本中，這些黑體溫度范圍從0℃至100℃進(jìn)行了優(yōu)化。夜視新突破，INFRAMET SAFT 熱成像光電測(cè)試系統(tǒng)，基數(shù)參數(shù)優(yōu)化，細(xì)節(jié)盡在掌握！上海熱成像校準(zhǔn)系統(tǒng)解決方案

熱成像新突破，基數(shù)參數(shù)精細(xì)調(diào)校，夜視效果超乎想象！上海熱成像校準(zhǔn)系統(tǒng)解決方案

TAIM可以對(duì)不超過(guò)120mm的光學(xué)瞄準(zhǔn)鏡和熱夾鉗提供擴(kuò)展的測(cè)試和視線(xiàn)?？梢允褂脤?duì)從電子輸出捕獲的圖像或從被測(cè)設(shè)備的顯示器捕獲的圖像進(jìn)行分析來(lái)執(zhí)行測(cè)試?？倻y(cè)試功能:1.蕞小可分辨溫差MRTD測(cè)量2.圖像偏轉(zhuǎn)角度和熱像儀夾像旋轉(zhuǎn)測(cè)量3.屈光度調(diào)節(jié)范圍、目鏡度數(shù)和屈光度刻度精度測(cè)量4.在電子輸出和光學(xué)輸出（顯示器）上測(cè)量MTF，NETD，F(xiàn)PN，非均勻性，F(xiàn)OV，失真，放大倍數(shù)。注意：噪聲參數(shù)只在電子輸出端測(cè)量。選配：1.檢查從無(wú)限遠(yuǎn)對(duì)焦到短距離對(duì)焦是否有圖像偏移上海熱成像校準(zhǔn)系統(tǒng)解決方案